Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
10 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Test validity için kapak resmi
Test validity
Yazar 
Wainer, Howard. Braun, Henry I., 1949-
Yer Numarası 
LB3060.7 T47 1988
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Rorschach's test için kapak resmi
Rorschach's test
Yazar 
Beck, Samuel Jacob, 1896-
Yer Numarası 
BF 431 B3887 1945-61 V.1
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~3
Rafta:
Kopya:
3. 
The concept of Jacksonian democracy : New York as a test case için kapak resmi
The concept of Jacksonian democracy : New York as a test case
Yazar 
Benson, Lee.
Yer Numarası 
F 123 B49 1961
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Structure and sentiment : a test case in social anthropology için kapak resmi
Structure and sentiment : a test case in social anthropology
Yazar 
Needham, Rodney.
Yer Numarası 
GN 480 N43 1962
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Mobilyada test teknikleri ve kalite kontrol üzerine araştırmalar. için kapak resmi
Mobilyada test teknikleri ve kalite kontrol üzerine araştırmalar.
Yazar 
Güray, Arif.
Yer Numarası 
TEZ 1309 .G87 1988
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
6. 
İngilizce test kılavuzu = A Guidebook for English tests için kapak resmi
İngilizce test kılavuzu = A Guidebook for English tests
Yazar 
Kocaman, Ahmet. Aksoy, Ziya, ort. yaz. Boztaş, İsmail, ort. yaz.
Yer Numarası 
PE 1498 K81 1988
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~3
Rafta:
Kopya:
7. 
Directory of nuclear reactors. için kapak resmi
Directory of nuclear reactors.
Yazar 
International Atomic Energy Agency.
Yer Numarası 
TK 9202 I57 V.101976
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Advanced research in VLSI proceedings of the fifth MIT conference, March 1988 için kapak resmi
Advanced research in VLSI proceedings of the fifth MIT conference, March 1988
Yazar 
Allen, Jonathan, 1934- Leighton, Frank Thomson. Massachusetts Institute of Technology. Microsystems Research Center. MIT Conference on Advanced Research in VLSI (5th : 1988 : Cambridge, Mass.)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6276833
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
The Amylograph handbook için kapak resmi
The Amylograph handbook
Yazar 
Shuey, William C., ed. Tipples, Keith H., ed.
Yer Numarası 
TX 769 A65 1980
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Adhesively bonded joints : testing, analysis and design için kapak resmi
Adhesively bonded joints : testing, analysis and design
Yazar 
Johnson, W. S. , ed.
Yer Numarası 
TA 492.A3 A34 1988
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: