Başlık:
Accelerated testing statistical models, test plans and data analyses
Yazar:
Nelson, Wayne, 1936-
ISBN:
9780470317471
9780470316795
Yayın Bilgileri:
New York : Wiley, c1990.
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (xiv, 601 p.) : ill.
Seri:
Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics
Seri Başlığı:
Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics
Elektronik Erişim:
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469757John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316795
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley047/89024853.html
HathiTrust Digital Library Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/20454343.html
Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 295259-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |