Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods için kapak resmi
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods
Yazar 
Conference on the Theory and Applications of Reliability with Emphasis on Bayesian and Nonparametric Methods (1975 : University of South Florida) Tsokos, Chris P. Shimi, I. N. United States. Air Force. Office of Scientific Research. University of South Florida.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127021010
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability and degradation of semiconductor lasers and LEDs için kapak resmi
Reliability and degradation of semiconductor lasers and LEDs
Yazar 
Fukuda, Mitsuo.
Yer Numarası 
TA 1700 F85 1991
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Evaluation and control of measurements için kapak resmi
Evaluation and control of measurements
Yazar 
Mandel, John.
Yer Numarası 
QA 276 M326 1991 1.K
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Statistical methods for the process industries için kapak resmi
Statistical methods for the process industries
Yazar 
McNeese, William H. Klein, Robert Allan, 1947- ort. yaz.
Yer Numarası 
TS 156.8 M42 1991
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: