Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Run-to-run control in semiconductor manufacturing için kapak resmi
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
Yazar 
Del Castillo, Enrique. Hurwitz, Arnon Max. Moyne, James.
Yer Numarası 
TK7871.85 .R863 2001
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Mechanism design : enumeration of kinematic structures according to function için kapak resmi
Mechanism design : enumeration of kinematic structures according to function
Yazar 
Tsai, Lung-Wen.
Yer Numarası 
TJ175 .T78 2001
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis http://www.taylorfrancis.com/books/9781420058420
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781420058420
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780367802790
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: