Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Adhesion measurement of films and coatings. Volume 2 için kapak resmi
Adhesion measurement of films and coatings. Volume 2
Yazar 
Mittal, Kash L., 1945- editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
QC183
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Handbook of silicon semiconductor metrology için kapak resmi
Handbook of silicon semiconductor metrology
Yazar 
Diebold, A. C. (Alain C.)
Yer Numarası 
TK7871.85 .H3337 2001
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: