Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Optical bit error rate an estimation methodology için kapak resmi
Optical bit error rate an estimation methodology
Yazar 
Kartalopoulos, Stamatios V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263060
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Uncertain input data problems and the worst scenario method için kapak resmi
Uncertain input data problems and the worst scenario method
Yazar 
Hlaváček, Ivan, 1933- Chleboun, Jan. Babuška, Ivo.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444514356
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Measurement error and misclassification in statistics and epidemiology impacts and Bayesian adjustments için kapak resmi
Measurement error and misclassification in statistics and epidemiology impacts and Bayesian adjustments
Yazar 
Gustafson, Paul, 1968-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Measurement errors in surveys için kapak resmi
Measurement errors in surveys
Yazar 
Biemer, Paul P. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0626/2005270829-b.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10509849
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10509849
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Optical bit error rate : an estimation methodology için kapak resmi
Optical bit error rate : an estimation methodology
Yazar 
Kartalopoulos, Stamatios V.
Yer Numarası 
TK5103.59 K363 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya: