Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Optical bit error rate : an estimation methodology için kapak resmi
Optical bit error rate : an estimation methodology
Yazar 
Kartalopoulos, Stamatios V.
Yer Numarası 
TK5103.59 K363 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
2. 
CE rehberi için kapak resmi
CE rehberi
Yazar 
Çeşmecioğlu, Senem, haz.
Yer Numarası 
TS 156.A2 C4 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Quality control için kapak resmi
Quality control
Yazar 
Besterfield, Dale H.
Yer Numarası 
TS 156 B47 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
4. 
Kalite yönetim sistemleri iç tetkik rehberi : hazırlık, tetkik ve rapor için kapak resmi
Kalite yönetim sistemleri iç tetkik rehberi : hazırlık, tetkik ve rapor
Yazar 
Erkoç, Zafer.
Yer Numarası 
TS 156 E75 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: