Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006. Proceedings için kapak resmi
Başlık:
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006. Proceedings
Yazar:
Yeung, Dit-Yan. editor.
ISBN:
9783540372417
Fiziksel Tanımlama:
XXI, 939 p. Also available online. online resource.
Seri:
Lecture Notes in Computer Science, 4109
Seri Başlığı:
Lecture Notes in Computer Science, 0302-9743 ; 4109
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 184510-2001 ONLINE
Arıyor...

On Order