Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Ultra Wideband Circuits, Transceivers and Systems için kapak resmi
Ultra Wideband Circuits, Transceivers and Systems
Yazar 
Gharpurey, Ranjit. editor. Kinget, Peter. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-69278-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
IEEE Circuits and systems magazine. için kapak resmi
IEEE Circuits and systems magazine.
Yer Numarası 
ALFABETİK V.2 2002
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2 ~0
Rafta:
Kopya:
3. 
Wireless technologies circuits, systems, and devices için kapak resmi
Wireless technologies circuits, systems, and devices
Yazar 
Iniewski, Krzysztof.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Verification of systems and circuits using LOTOS, Petri Nets, and CCS için kapak resmi
Verification of systems and circuits using LOTOS, Petri Nets, and CCS
Yazar 
Yoeli, Michael, 1917- Kol, Rakefet.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Available by subscription from Safari Books Online
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0809/2007033487-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470253410
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9780471704492
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Wafer Level 3-D ICs Process Technology için kapak resmi
Wafer Level 3-D ICs Process Technology
Yazar 
Tan, Chuan Seng. editor. Gutmann, Ronald J. editor. Reif, L. Rafael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76534-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach için kapak resmi
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach
Yazar 
Yichuang Sun, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS019E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
mm-Wave Silicon Technology 60 GHz and Beyond için kapak resmi
mm-Wave Silicon Technology 60 GHz and Beyond
Yazar 
Niknejad, Ali M. editor. Hashemi, Hossein. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76561-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Adaptive Techniques for Dynamic Processor Optimization Theory and Practice için kapak resmi
Adaptive Techniques for Dynamic Processor Optimization Theory and Practice
Yazar 
Wang, Alice. editor. Naffziger, Samuel. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76472-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: