Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Microscopy of Semiconducting Materials 2007 için kapak resmi
Microscopy of Semiconducting Materials 2007
Yazar 
Cullis, A. G. editor. Midgley, P. A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8615-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73886-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 2: Materials Science için kapak resmi
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 2: Materials Science
Yazar 
Richter, Silvia. editor. Schwedt, Alexander. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85226-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Microstructural characterization of materials için kapak resmi
Microstructural characterization of materials
Yazar 
Brandon, D. G. Kaplan, Wayne D. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Online text
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9780470727133
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=470287
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470727133
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=234294&ref=toc
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: