Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Defects in microelectronic materials and devices için kapak resmi
Defects in microelectronic materials and devices
Yazar 
Fleetwood, Daniel. Pantelides, Sokrates T. Schrimpf, Ronald Donald.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Compact MOSFET models for VLSI design için kapak resmi
Compact MOSFET models for VLSI design
Yazar 
Bhattacharyya, A. B. (Amalendu Bhushan) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5681002
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: