Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Ultra-fast material metrology için kapak resmi
Ultra-fast material metrology
Yazar 
Horn, Alexander, PD Dr.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=482071
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527627929
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10332978
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Computational Surface and Roundness Metrology için kapak resmi
Computational Surface and Roundness Metrology
Yazar 
Muralikrishnan, Bala. author. Raja, Jay. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-297-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Handbook of optical metrology principles and applications için kapak resmi
Handbook of optical metrology principles and applications
Yazar 
Yoshizawa, T?ru, 1939-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Transverse disciplines in metrology proceedings of the 13th International Metrology Congress, 2007, Lille, France için kapak resmi
Transverse disciplines in metrology proceedings of the 13th International Metrology Congress, 2007, Lille, France
Yazar 
International Metrology Conference (13th : 2007 : French College of Metrology) Collège français de métrologie. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=477706
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470611371
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10360928
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=477706
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/230183422.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science için kapak resmi
Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science
Yazar 
Pavese, Franco. editor. Forbes, Alistair B. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-8176-4804-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology için kapak resmi
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology
Yazar 
Osten, Wolfgang. editor. Kujawinska, Malgorzata. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03051-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: