Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2009 and Mensura 2009 Amsterdam, The Netherlands, November 4-6, 2009. Proceedings için kapak resmi
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2009 and Mensura 2009 Amsterdam, The Netherlands, November 4-6, 2009. Proceedings
Yazar 
Abran, Alain. editor. Braungarten, René. editor. Dumke, Reiner R. editor. Cuadrado-Gallego, Juan J. editor. Brunekreef, Jacob. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-05415-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Modern regression methods için kapak resmi
Modern regression methods
Yazar 
Ryan, Thomas P., 1945-
Yer Numarası 
QA278.2 .R93 2009
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9780470382806
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Flat-rolled steel processes : advanced technologies için kapak resmi
Flat-rolled steel processes : advanced technologies
Yazar 
Ginzburg, Vladimir B., 1935-
Yer Numarası 
TS340 .F576 2009
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: