Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
10 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Mass Metrology için kapak resmi
Mass Metrology
Yazar 
Gupta, S. V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-23412-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Instrumentation and metrology in oceanography için kapak resmi
Instrumentation and metrology in oceanography
Yazar 
Le Menn, Marc.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ebrary An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118561959
Table of contents http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy1303/2012025490-t.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10684971
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Semiconductor strain metrology principles and applications için kapak resmi
Semiconductor strain metrology principles and applications
Yazar 
Wong, Terence K. S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=500610
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Optical imaging and metrology advanced technologies için kapak resmi
Optical imaging and metrology advanced technologies
Yazar 
Osten, Wolfgang. Reingand, Nadya.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=947916
Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648443
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10575536
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Graphene Nanoelectronics Metrology, Synthesis, Properties and Applications için kapak resmi
Graphene Nanoelectronics Metrology, Synthesis, Properties and Applications
Yazar 
Raza, Hassan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22984-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
A practical guide to optical metrology for thin films için kapak resmi
A practical guide to optical metrology for thin films
Yazar 
Quinten, Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Check for Full Text Access restricted: MSVU users only
Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527664344
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Measurements with persons theory, methods, and implementation areas için kapak resmi
Measurements with persons theory, methods, and implementation areas
Yazar 
Berglund, Birgitta.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Coordinate measuring machines and systems için kapak resmi
Coordinate measuring machines and systems
Yazar 
Hocken, Robert J. Pereira, Paulo H.
Yer Numarası 
TA165.5 .C66 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Fundamentals of laser micromachining için kapak resmi
Fundamentals of laser micromachining
Yazar 
Schaeffer, Ronald D., author.
Yer Numarası 
TA1675 .S33 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
100 years of superconductivity için kapak resmi
100 years of superconductivity
Yazar 
Rogalla, H. (Horst) Kes, P. H. (Peter H.)
Yer Numarası 
QC611.96 .A16 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: