Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(10)
Wouterlood, Floris G.
(2)
Amit, Michal. editor.
(1)
Bard, Allen J.
(1)
Baró, Arturo M.
(1)
Dil
Konu
Microscopy.
(8)
Nanotechnology.
(6)
Atomic force microscopy.
(4)
Life sciences.
(4)
Nanostructured materials.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
39 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Scanning electrochemical microscopy için kapak resmi
Scanning electrochemical microscopy
Yazar 
Bard, Allen J. Mirkin, Michael V., 1961-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Atom Probe Microscopy için kapak resmi
Atom Probe Microscopy
Yazar 
Gault, Baptiste. author. Moody, Michael P. author. Cairney, Julie M. author. Ringer, Simon P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3436-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Practical methods in electron microscopy için kapak resmi
Practical methods in electron microscopy
Yazar 
Glauert, Audrey M., ed.
Yer Numarası 
QH 207 P7 1972- V.1
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
4. 
Electron microscopy of cells and tissues için kapak resmi
Electron microscopy of cells and tissues
Yazar 
Sjstrand, Fritiof Stig, 1912-
Yer Numarası 
QH 212.E4 S55 1967 1.K
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Molecular manipulation with atomic force microscopy için kapak resmi
Molecular manipulation with atomic force microscopy
Yazar 
Duwez, Anne-Sophie. Willet, Nicolas.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Reflectance Confocal Microscopy for Skin Diseases için kapak resmi
Reflectance Confocal Microscopy for Skin Diseases
Yazar 
Hofmann-Wellenhof, Rainer. editor. Pellacani, Giovanni. editor. Malvehy, Joseph. editor. Soyer, Hans Peter. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-21997-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy için kapak resmi
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Yazar 
Vogt, Thomas. editor. Dahmen, Wolfgang. editor. Binev, Peter. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2191-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Scanning Electron Microscopy for the Life Sciences için kapak resmi
Scanning Electron Microscopy for the Life Sciences
Yazar 
Schatten, Heide.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Biomedical research applications of scanning electron microscopy için kapak resmi
Biomedical research applications of scanning electron microscopy
Yazar 
Hodges, Gisele M. ed. Hallowes, Richard C. ed.
Yer Numarası 
QH 212.S3 B615 1979 V.1 1.K
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~3
Rafta:
Kopya:
10. 
Atomic force microscopy in liquid biological applications için kapak resmi
Atomic force microscopy in liquid biological applications
Yazar 
Baró, Arturo M. Reifenberger, Ronald G.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527649808
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Kelvin Probe Force Microscopy Measuring and Compensating Electrostatic Forces için kapak resmi
Kelvin Probe Force Microscopy Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Yazar 
Sadewasser, Sascha. editor. Glatzel, Thilo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22566-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Atomic force microscopy exploring basic modes and advanced applications için kapak resmi
Atomic force microscopy exploring basic modes and advanced applications
Yazar 
Haugstad, Greg, 1963-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118360668
ebrary http://site.ebrary.com/id/10606048
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118360668
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: