Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
VLSI electronics microstructure science için kapak resmi
VLSI electronics microstructure science
Yazar 
Einspruch, Norman G.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780122341236
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
3D integration for VLSI systems için kapak resmi
3D integration for VLSI systems
Yazar 
Tan, Chuan Seng. Chen, Kuan-Neng. Koester, Steven J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Harnessing VLSI System Design with EDA Tools için kapak resmi
Harnessing VLSI System Design with EDA Tools
Yazar 
Kamat, Rajanish K. author. Shinde, Santosh A. author. Gaikwad, Pawan K. author. Guhilot, Hansraj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1864-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
VLSI-SoC: Forward-Looking Trends in IC and Systems Design 18th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2010, Madrid, Spain, September 27-29, 2010, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI-SoC: Forward-Looking Trends in IC and Systems Design 18th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2010, Madrid, Spain, September 27-29, 2010, Revised Selected Papers
Yazar 
Ayala, José L. editor. Atienza Alonso, David. editor. Reis, Ricardo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28566-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs için kapak resmi
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Yazar 
Shen, Ruijing. author. Tan, Sheldon X.-D. author. Yu, Hao. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0788-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
VLSI-SoC: Advanced Research for Systems on Chip 19th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2011, Hong Kong, China, October 3-5, 2011, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI-SoC: Advanced Research for Systems on Chip 19th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2011, Hong Kong, China, October 3-5, 2011, Revised Selected Papers
Yazar 
Mir, Salvador. editor. Tsui, Chi-Ying. editor. Reis, Ricardo. editor. Choy, Oliver C. S. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-32770-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design için kapak resmi
Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
Yazar 
Tan, Sheldon. He, Lei.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings için kapak resmi
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings
Yazar 
Rahaman, Hafizur. editor. Chattopadhyay, Sanatan. editor. Chattopadhyay, Santanu. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31494-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: