Başlık:
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
Yazar:
Goel, Sandeep K, editor of compilation.
ISBN:
9781439829424
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource : text file, PDF
Seri:
Devices, circuits, and systems
Devices, circuits, and systems.
Konu Terimleri:
Ayırtma:
Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 342881-1001 | ONLINE(342881.1) | Arıyor... | Arıyor... |