Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists için kapak resmi
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists
Yazar 
Vosk, Ted, author. Emery, A. F. (Ashley Francis), 1934- author.
Yer Numarası 
ONLINE(357151.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Pattern Recognition and Image Analysis 7th Iberian Conference, IbPRIA 2015, Santiago de Compostela, Spain, June 17-19, 2015, Proceedings için kapak resmi
Pattern Recognition and Image Analysis 7th Iberian Conference, IbPRIA 2015, Santiago de Compostela, Spain, June 17-19, 2015, Proceedings
Yazar 
Paredes, Roberto. editor. Cardoso, Jaime S. editor. Pardo, Xosé M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(519035.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-19390-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces Final Report of the DFG Research Group 576 için kapak resmi
Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces Final Report of the DFG Research Group 576
Yazar 
Denkena, Berend. editor. Rienäcker, Adrian. editor. Knoll, Gunter. editor. Bach, Friedrich-Wilhelm. editor. Maier, Hans Jürgen. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09692-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Pattern Recognition and Machine Intelligence 6th International Conference, PReMI 2015, Warsaw, Poland, June 30 - July 3, 2015, Proceedings için kapak resmi
Pattern Recognition and Machine Intelligence 6th International Conference, PReMI 2015, Warsaw, Poland, June 30 - July 3, 2015, Proceedings
Yazar 
Kryszkiewicz, Marzena. editor. Bandyopadhyay, Sanghamitra. editor. Rybinski, Henryk. editor. Pal, Sankar K. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(519185.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-19941-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection Advances and Applications için kapak resmi
Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection Advances and Applications
Yazar 
Liu, Zheng. editor. Ukida, Hiroyuki. editor. Ramuhalli, Pradeep. editor. Niel, Kurt. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(518392.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4471-6741-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Digital Holography and Wavefront Sensing Principles, Techniques and Applications için kapak resmi
Digital Holography and Wavefront Sensing Principles, Techniques and Applications
Yazar 
Schnars, Ulf. author. Falldorf, Claas. author. Watson, John. author. Jüptner, Werner. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-44693-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: