Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(73)
Azar, Ahmad Taher. editor.
(2)
Fakhfakh, Mourad. editor.
(2)
Hausken, Kjell. editor.
(2)
Kim, Kuinam J. editor.
(2)
Dil
Konu
Security Science and Technology.
(14)
Security systems.
(14)
Computational intelligence.
(11)
Electronic Circuits and Systems.
(9)
Electronic circuits.
(9)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
90 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability in pragmatics için kapak resmi
Reliability in pragmatics
Yazar 
McCready, Eric (Eric S.), author.
Yer Numarası 
P99.4.P72 M445 2015
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Circuit Design for Reliability için kapak resmi
Circuit Design for Reliability
Yazar 
Reis, Ricardo. editor. Cao, Yu. editor. Wirth, Gilson. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-4078-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Introduction to Quality and Reliability Engineering için kapak resmi
Introduction to Quality and Reliability Engineering
Yazar 
Jiang, Renyan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-47215-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Risk and reliability in geotechnical engineering için kapak resmi
Risk and reliability in geotechnical engineering
Yazar 
Ching, Jianye, editor. Phoon, Kok-Kwang, editor.
Yer Numarası 
TA706 .R48 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Wire Ropes Tension, Endurance, Reliability için kapak resmi
Wire Ropes Tension, Endurance, Reliability
Yazar 
Feyrer, Klaus. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-54996-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods için kapak resmi
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods
Yazar 
Conference on the Theory and Applications of Reliability with Emphasis on Bayesian and Nonparametric Methods (1975 : University of South Florida) Tsokos, Chris P. Shimi, I. N. United States. Air Force. Office of Scientific Research. University of South Florida.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127021010
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Fundamentals of Lead-Free Solder Interconnect Technology From Microstructures to Reliability için kapak resmi
Fundamentals of Lead-Free Solder Interconnect Technology From Microstructures to Reliability
Yazar 
Lee, Tae-Kyu. author. Bieler, Thomas R. author. Kim, Choong-Un. author. Ma, Hongtao. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-9266-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Reliability of Steel Columns Protected by Intumescent Coatings Subjected to Natural Fires için kapak resmi
Reliability of Steel Columns Protected by Intumescent Coatings Subjected to Natural Fires
Yazar 
Zhang, Chao. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-46379-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Chemical and biochemical technology : materials, processing, and reliability için kapak resmi
Chemical and biochemical technology : materials, processing, and reliability
Yazar 
Varfolomeev, Sergei Dmitrievich, editor.
Yer Numarası 
TP145 .C44 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Computer Safety, Reliability, and Security 34th International Conference, SAFECOMP 2015, Delft, The Netherlands, September 23-25, 2015, Proceedings için kapak resmi
Computer Safety, Reliability, and Security 34th International Conference, SAFECOMP 2015, Delft, The Netherlands, September 23-25, 2015, Proceedings
Yazar 
Koornneef, Floor. editor. van Gulijk, Coen. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-24255-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Numerical Methods for Reliability and Safety Assessment Multiscale and Multiphysics Systems için kapak resmi
Numerical Methods for Reliability and Safety Assessment Multiscale and Multiphysics Systems
Yazar 
Kadry, Seifedine. editor. El Hami, Abdelkhalak. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-07167-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Silicon Analog Components Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability için kapak resmi
Silicon Analog Components Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability
Yazar 
El-Kareh, Badih. author. Hutter, Lou N. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-2751-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç