Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Sensitivity and uncertainty analysis için kapak resmi
Sensitivity and uncertainty analysis
Yazar 
Cacuci, D. G. Ionescu-Bujor, Mihaela. Navon, Ionel Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Sensitivity and uncertainty analysis için kapak resmi
Sensitivity and uncertainty analysis
Yazar 
Cacuci, D. G. Ionescu-Bujor, Mihaela. Navon, Ionel Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
E-Technologies 6th International Conference, MCETECH 2015, Montréal, QC, Canada, May 12-15, 2015, Proceedings için kapak resmi
E-Technologies 6th International Conference, MCETECH 2015, Montréal, QC, Canada, May 12-15, 2015, Proceedings
Yazar 
Benyoucef, Morad. editor. Weiss, Michael. editor. Mili, Hafedh. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(518497.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-17957-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: