Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Driver Acceptance of New Technology : Theory, Measurement and Optimisation için kapak resmi
Driver Acceptance of New Technology : Theory, Measurement and Optimisation
Yazar 
Horberry, Tim, editor. Regan, Michael A., editor. Stevens, Alan, editor.
Yer Numarası 
TL152.3 D758 2018
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/e/9781317147947
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781315578132
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Fabrication of SiGe HBT BiCMOS technology için kapak resmi
Fabrication of SiGe HBT BiCMOS technology
Yazar 
Cressler, John D., author Cressler, John D., editor.
Yer Numarası 
TK7871.96 .B55
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781315218892
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Media design and technology for live entertainment : essential tools for video presentation için kapak resmi
Media design and technology for live entertainment : essential tools for video presentation
Yazar 
Gaddy, Davin E., author.
Yer Numarası 
TR850 .G28 2018
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: