Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Diffusion and defect data. için kapak resmi
Diffusion and defect data.
Yazar 
Wöhlbier, F. H., ed.
Yer Numarası 
QD 543 D49 V.241981 (SET)
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~3
Rafta:
Kopya:
2. 
High-Z Materials for X-ray Detection Material Properties and Characterization Techniques için kapak resmi
High-Z Materials for X-ray Detection Material Properties and Characterization Techniques
Yazar 
Abbene, Leonardo. editor. Iniewski, Krzysztof (Kris). editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-20955-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Defects in organic semiconductors and devices için kapak resmi
Defects in organic semiconductors and devices
Yazar 
Nguyen, Thien-Phap, author.
Yer Numarası 
TK7871.99 .O74 N48 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394229451
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: