Başlık:
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar:
Strong, Alvin Wayne, 1946-
ISBN:
9780470455265
9780470455258
Yayın Bilgileri:
Piscataway, NJ : IEEE Press ; Hoboken, NJ : Wiley, c2009.
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (xv, 624 p.) : ill.
Seri:
IEEE Press series on microelectronic systems
IEEE Press series on microelectronic systems.
Tür:
Yazar Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 249574-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |