Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Functional safety for embedded systems için kapak resmi
Functional safety for embedded systems
Yazar 
Xie, Guoqi, 1983- author. Zhang, Yawen, author. Li, Renfa, author. Li, Kenli, author. Li, Keqin, 1963- author.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003391517
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Performance, reliability, and availability evaluation of computational systems. Volume 1, Performance and background için kapak resmi
Performance, reliability, and availability evaluation of computational systems. Volume 1, Performance and background
Yazar 
Maciel, Paulo Romero Martins, author.
Yer Numarası 
QA76
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003306016
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Performance, reliability, and availability evaluation of computational systems. Volume 2, Reliability, availability modeling, measuring, and data analysis için kapak resmi
Performance, reliability, and availability evaluation of computational systems. Volume 2, Reliability, availability modeling, measuring, and data analysis
Yazar 
Maciel, Paulo Romero Martins, author.
Yer Numarası 
QA76
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003306030
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: