Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures Phonons, Plasmons, and Polaritons için kapak resmi
Başlık:
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures Phonons, Plasmons, and Polaritons
Yazar:
Schubert, Mathias. author.
ISBN:
9783540447016
Fiziksel Tanımlama:
XI, 193 p. 77 illus. online resource.
Seri:
Springer Tracts in Modern Physics, 209
Seri Başlığı:
Springer Tracts in Modern Physics, 0081-3869 ; 209
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 184793-2001 ONLINE
Arıyor...

On Order