Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs için kapak resmi
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Yazar 
Shen, Ruijing. author. Tan, Sheldon X.-D. author. Yu, Hao. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0788-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
High Performance Fiber Reinforced Cement Composites 6 HPFRCC 6 için kapak resmi
High Performance Fiber Reinforced Cement Composites 6 HPFRCC 6
Yazar 
Parra-Montesinos, Gustavo J. editor. Reinhardt, Hans W. editor. Naaman, A. E. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-2436-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Advanced Design and Manufacture to Gain a Competitive Edge New Manufacturing Techniques and their Role in Improving Enterprise Performance için kapak resmi
Advanced Design and Manufacture to Gain a Competitive Edge New Manufacturing Techniques and their Role in Improving Enterprise Performance
Yazar 
Yan, Xiu-Tian. editor. Jiang, Chengyu. editor. Eynard, Benoit. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-241-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Embedded Systems: Design, Analysis and Verification 4th IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2013, Paderborn, Germany, June 17-19, 2013. Proceedings için kapak resmi
Embedded Systems: Design, Analysis and Verification 4th IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2013, Paderborn, Germany, June 17-19, 2013. Proceedings
Yazar 
Schirner, Gunar. editor. Götz, Marcelo. editor. Rettberg, Achim. editor. Zanella, Mauro C. editor. Rammig, Franz J. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(334682.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-38853-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Practical Aspects of Design Science European Design Science Symposium, EDSS 2011, Leixlip, Ireland, October 14, 2011, Revised Selected Papers için kapak resmi
Practical Aspects of Design Science European Design Science Symposium, EDSS 2011, Leixlip, Ireland, October 14, 2011, Revised Selected Papers
Yazar 
Helfert, Markus. editor. Donnellan, Brian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33681-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Analysis, Architectures and Modelling of Embedded Systems Third IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2009, Langenargen, Germany, September 14-16, 2009. Proceedings için kapak resmi
Analysis, Architectures and Modelling of Embedded Systems Third IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2009, Langenargen, Germany, September 14-16, 2009. Proceedings
Yazar 
Rettberg, Achim. editor. Zanella, Mauro C. editor. Amann, Michael. editor. Keckeisen, Michael. editor. Rammig, Franz J. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04284-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Control and Automation International Conference, CA 2009, Held as Part of the Future Generation Information Technology Conference, CA 2009, Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009.Proceedings için kapak resmi
Control and Automation International Conference, CA 2009, Held as Part of the Future Generation Information Technology Conference, CA 2009, Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009.Proceedings
Yazar 
Ślęzak, Dominik. editor. Kim, Tai-hoon. editor. Stoica, Adrian. editor. Kang, Byeong-Ho. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-10741-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Functional Verification of Programmable Embedded Architectures A Top-Down Approach için kapak resmi
Functional Verification of Programmable Embedded Architectures A Top-Down Approach
Yazar 
Mishra, Prabhat. author. Dutt, Nikil D. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137514
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: