Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Embedded Systems: Design, Analysis and Verification 4th IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2013, Paderborn, Germany, June 17-19, 2013. Proceedings için kapak resmi
Embedded Systems: Design, Analysis and Verification 4th IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2013, Paderborn, Germany, June 17-19, 2013. Proceedings
Yazar 
Schirner, Gunar. editor. Götz, Marcelo. editor. Rettberg, Achim. editor. Zanella, Mauro C. editor. Rammig, Franz J. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(334682.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-38853-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Analysis, Architectures and Modelling of Embedded Systems Third IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2009, Langenargen, Germany, September 14-16, 2009. Proceedings için kapak resmi
Analysis, Architectures and Modelling of Embedded Systems Third IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2009, Langenargen, Germany, September 14-16, 2009. Proceedings
Yazar 
Rettberg, Achim. editor. Zanella, Mauro C. editor. Amann, Michael. editor. Keckeisen, Michael. editor. Rammig, Franz J. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04284-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: