Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Counterfeit Integrated Circuits Detection and Avoidance için kapak resmi
Counterfeit Integrated Circuits Detection and Avoidance
Yazar 
Tehranipoor, Mark (Mohammad). author. Guin, Ujjwal. author. Forte, Domenic. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-11824-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Arbitrary Modeling of TSVs for 3D Integrated Circuits için kapak resmi
Arbitrary Modeling of TSVs for 3D Integrated Circuits
Yazar 
Salah, Khaled. author. Ismail, Yehea. author. El-Rouby, Alaa. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-07611-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Architecture design for soft errors için kapak resmi
Architecture design for soft errors
Yazar 
Mukherjee, Shubu.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123695291
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: