Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits için kapak resmi
Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits
Yazar 
Wang, Ran. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-54714-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advances in User Authentication için kapak resmi
Advances in User Authentication
Yazar 
Dasgupta, Dipankar. author. Roy, Arunava. author. Nag, Abhijit. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-58808-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation için kapak resmi
Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Yazar 
Sayil, Selahattin. author. (orcid)0000-0003-4158-0454 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-30607-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Engineering Embedded Systems Physics, Programs, Circuits için kapak resmi
Engineering Embedded Systems Physics, Programs, Circuits
Yazar 
Hintenaus, Peter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-10680-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: