Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Proceedings of the Third International Conference on Trends in Information, Telecommunication and Computing için kapak resmi
Proceedings of the Third International Conference on Trends in Information, Telecommunication and Computing
Yazar 
Das, Vinu V. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331338.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3363-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Electronic Engineering and Computing Technology için kapak resmi
Electronic Engineering and Computing Technology
Yazar 
Ao, Sio-Iong. editor. Gelman, Len. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-8776-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Embedded Systems Specification and Design Languages Selected contributions from FDL’07 için kapak resmi
Embedded Systems Specification and Design Languages Selected contributions from FDL’07
Yazar 
Villar, Eugenio. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8297-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: