Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
16 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Test und Verlässlichkeit von Rechnern için kapak resmi
Test und Verlässlichkeit von Rechnern
Yazar 
Kemnitz, Günter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71355-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Test and Analysis of Web Services için kapak resmi
Test and Analysis of Web Services
Yazar 
Baresi, Luciano. editor. Nitto, Elisabetta Di. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-72912-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Design Driven Testing Test Smarter, Not Harder için kapak resmi
Design Driven Testing Test Smarter, Not Harder
Yazar 
Stephens, Matt. author. Rosenberg, Doug. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4302-2944-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques için kapak resmi
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques
Yazar 
Chen, Mingsong. author. Qin, Xiaoke. author. Koo, Heon-Mo. author. Mishra, Prabhat. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1359-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers
Yazar 
Gaur, Manoj Singh. editor. Zwolinski, Mark. editor. Laxmi, Vijay. editor. Boolchandani, Dharmendra. editor. Sing, Virendra. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(335156.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-42024-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Qualitätssicherung durch Softwaretests Vorgehensweisen und Werkzeuge zum Test von Java-Programmen için kapak resmi
Qualitätssicherung durch Softwaretests Vorgehensweisen und Werkzeuge zum Test von Java-Programmen
Yazar 
Kleuker, Stephan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(338309.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-2068-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings için kapak resmi
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings
Yazar 
Rahaman, Hafizur. editor. Chattopadhyay, Sanatan. editor. Chattopadhyay, Santanu. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31494-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability için kapak resmi
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Yazar 
Eggersglüß, Stephan. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Test-Driven Development An Empirical Evaluation of Agile Practice için kapak resmi
Test-Driven Development An Empirical Evaluation of Agile Practice
Yazar 
Madeyski, Lech. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04288-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links için kapak resmi
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Yazar 
Hong, Dongwoo. author. Cheng, Kwang-Ting. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Parsing the Turing Test Philosophical and Methodological Issues in the Quest for the Thinking Computer için kapak resmi
Parsing the Turing Test Philosophical and Methodological Issues in the Quest for the Thinking Computer
Yazar 
Epstein, Robert. editor. Roberts, Gary. editor. Beber, Grace. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6710-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: