Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
VLSI Design and Test for Systems Dependability için kapak resmi
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Yazar 
Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Secure and resilient software requirements, test cases, and testing methods için kapak resmi
Secure and resilient software requirements, test cases, and testing methods
Yazar 
Merkow, Mark S. Raghavan, Lakshmikanth.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Security and policy driven computing için kapak resmi
Security and policy driven computing
Yazar 
Liu, Lei, 1968-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
How to break software security : effective technigues for security testing için kapak resmi
How to break software security : effective technigues for security testing
Yazar 
Whittaker, James A., 1965- Thomson, Herbert H., ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 76.9.A25 W48 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
5. 
Exploiting software : how to break code için kapak resmi
Exploiting software : how to break code
Yazar 
Hoglund, Greg. McGraw, Gary, 1966- ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 76.9.A25 H635 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: