Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
2023
(5)
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging için kapak resmi
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
Yazar 
Gan, Chong Leong,. author. Huang, Chen-Yu,. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-26708-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory için kapak resmi
Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory
Yazar 
Mizutani, Satoshi. author. Zhao, Xufeng. author. Nakagawa, Toshio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-27316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Applications in Reliability and Statistical Computing için kapak resmi
Applications in Reliability and Statistical Computing
Yazar 
Pham, Hoang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-21232-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Optimal Inspection Models with Their Applications için kapak resmi
Optimal Inspection Models with Their Applications
Yazar 
Ito, Kodo. author. Nakagawa, Toshio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-22021-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Risk-Conscious Operations Management An Integrated Paradigm for Complex Engineering System için kapak resmi
Risk-Conscious Operations Management An Integrated Paradigm for Complex Engineering System
Yazar 
Varde, Prabhakar V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-9334-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: