Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(41)
Kunkel, Julian M. editor.
(3)
Nakagawa, Toshio. author.
(3)
Balaji, Pavan. editor.
(2)
Reis, Ricardo. editor. (orcid)0000-0001-5781-5858
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Hardware Performance and Reliability.
(36)
Computer networks .
(11)
Electronic digital computers -- Evaluation.
(9)
System Performance and Evaluation.
(9)
Communications Engineering, Networks.
(7)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
41 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Applications in Reliability and Statistical Computing için kapak resmi
Applications in Reliability and Statistical Computing
Yazar 
Pham, Hoang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-21232-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging için kapak resmi
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
Yazar 
Gan, Chong Leong,. author. Huang, Chen-Yu,. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-26708-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Applied OSS Reliability Assessment Modeling, AI and Tools Mathematics and AI for OSS Reliability Assessment için kapak resmi
Applied OSS Reliability Assessment Modeling, AI and Tools Mathematics and AI for OSS Reliability Assessment
Yazar 
Tamura, Yoshinobu. author. (orcid)0000-0001-7665-5765 Yamada, Shigeru. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-64803-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory için kapak resmi
Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory
Yazar 
Mizutani, Satoshi. author. Zhao, Xufeng. author. Nakagawa, Toshio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-27316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Advances in Reliability and Safety Assessment for Critical Systems Proceedings of the 5th National Conference on Reliability and Safety (NCRS 2022) için kapak resmi
Advances in Reliability and Safety Assessment for Critical Systems Proceedings of the 5th National Conference on Reliability and Safety (NCRS 2022)
Yazar 
Senthil Kumar, C. editor. Sujatha, R. editor. Muthukumar, R. editor. Rao, K. Balaji. editor. Prakash, Raghu V. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-5049-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era - Design, Verification and Reliability 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era - Design, Verification and Reliability 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016, Revised Selected Papers
Yazar 
Hollstein, Thomas. editor. Raik, Jaan. editor. Kostin, Sergei. editor. Tšertov, Anton. editor. O'Connor, Ian. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-67104-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers
Yazar 
Shin, Youngsoo. editor. Tsui, Chi Ying. editor. Kim, Jae-Joon. editor. Choi, Kiyoung. editor. Reis, Ricardo. editor. (orcid)0000-0001-5781-5858
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Maintenance Overtime Policies in Reliability Theory Models with Random Working Cycles için kapak resmi
Maintenance Overtime Policies in Reliability Theory Models with Random Working Cycles
Yazar 
Nakagawa, Toshio. author. Zhao, Xufeng. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-20813-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Frontiers of Performability Engineering In Honor of Prof. K.B. Misra için kapak resmi
Frontiers of Performability Engineering In Honor of Prof. K.B. Misra
Yazar 
Karanki, Durga Rao. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-8258-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Risk-Conscious Operations Management An Integrated Paradigm for Complex Engineering System için kapak resmi
Risk-Conscious Operations Management An Integrated Paradigm for Complex Engineering System
Yazar 
Varde, Prabhakar V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-9334-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Optimal Inspection Models with Their Applications için kapak resmi
Optimal Inspection Models with Their Applications
Yazar 
Ito, Kodo. author. Nakagawa, Toshio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-22021-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
The AI Act and The Agile Safety Plan için kapak resmi
The AI Act and The Agile Safety Plan
Yazar 
Myklebust, Thor. author. (orcid)0000-0002-9283-092X Stålhane, Tor. author. Vatn, Dorthea Mathilde Kristin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-80504-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: