Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Self-restructuring in Fault Tolerant Architecture Processor Arrays with Spares için kapak resmi
Self-restructuring in Fault Tolerant Architecture Processor Arrays with Spares
Yazar 
Takanami, Itsuo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-96-1539-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Information Security Practice and Experience 19th International Conference, ISPEC 2024, Wuhan, China, October 25-27, 2024, Proceedings için kapak resmi
Information Security Practice and Experience 19th International Conference, ISPEC 2024, Wuhan, China, October 25-27, 2024, Proceedings
Yazar 
Xia, Zhe. editor. (orcid)0000-0003-4397-1248 Chen, Jiageng. editor. (orcid)0000-0001-9033-2575 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-97-9053-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Intelligent Computing, Smart Communication and Network Technologies First International Conference, ICICSCNT 2023, Chennai, India, May 17-18, 2023, Proceedings için kapak resmi
Intelligent Computing, Smart Communication and Network Technologies First International Conference, ICICSCNT 2023, Chennai, India, May 17-18, 2023, Proceedings
Yazar 
Dassan, Paulraj. editor. (orcid)0000-0002-8853-9945 Thirumaaran, Sethukarasi. editor. (orcid)0000-0002-9433-2609 Subramani, Neelakandan. editor. (orcid)0000-0003-2337-8471 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-75957-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Applications in Reliability and Statistical Computing için kapak resmi
Applications in Reliability and Statistical Computing
Yazar 
Pham, Hoang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-21232-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Machine learning for iOS developers için kapak resmi
Machine learning for iOS developers
Yazar 
Mishra, Abhishek, author.
Yer Numarası 
Q325.5 .M57 2020
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119602927
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers
Yazar 
Shin, Youngsoo. editor. Tsui, Chi Ying. editor. Kim, Jae-Joon. editor. Choi, Kiyoung. editor. Reis, Ricardo. editor. (orcid)0000-0001-5781-5858
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: