Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices için kapak resmi
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices
Yazar 
Ueda, Osamu. editor. Pearton, Stephen J. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331478.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4337-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors için kapak resmi
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors
Yazar 
Im, Seongil. author. Chang, Youn-Gyoung. author. Kim, Jae Hoon. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(336233.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6392-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Optical Communication over Plastic Optical Fibers Integrated Optical Receiver Technology için kapak resmi
Optical Communication over Plastic Optical Fibers Integrated Optical Receiver Technology
Yazar 
Atef, Mohamed. author. Zimmermann, Horst. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333325.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-30388-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: