Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
COMPUTERS -- Software Development & Engineering -- General.
(7)
Software engineering.
(6)
COMPUTERS / Software Development & Engineering / General
(4)
COMPUTERS -- Programming -- Open Source.
(3)
COMPUTERS -- Software Development & Engineering -- Tools.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
13 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
How to Reduce the Cost of Software Testing için kapak resmi
How to Reduce the Cost of Software Testing
Yazar 
Heusser, Matthew, editor. Kulkarni, Govind, editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
QA76.76 .T48
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Testing Complex and Embedded Systems için kapak resmi
Testing Complex and Embedded Systems
Yazar 
Pries, Kim H., author. Quigley, Jon M., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Semantic web and model-driven engineering için kapak resmi
Semantic web and model-driven engineering
Yazar 
Parreiras, Fernando Silva. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=6218883
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Beyond redundancy how geographic redundancy can improve service availability and reliability of computer-based systems için kapak resmi
Beyond redundancy how geographic redundancy can improve service availability and reliability of computer-based systems
Yazar 
Bauer, Eric. Adams, Randee. Eustace, Dan.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=6047598
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Computer, network, software, and hardware engineering with applications için kapak resmi
Computer, network, software, and hardware engineering with applications
Yazar 
Schneidewind, Norman.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEEXplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6168884
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Solving enterprise applications performance puzzles queuing models to the rescue için kapak resmi
Solving enterprise applications performance puzzles queuing models to the rescue
Yazar 
Grinshpan, L. A. (Leonid Abramovich) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEEXplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6168885
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Practical database programming with Java için kapak resmi
Practical database programming with Java
Yazar 
Bai, Ying, 1956-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5988888
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Software maintenance management evaluation and continuous improvement için kapak resmi
Software maintenance management evaluation and continuous improvement
Yazar 
April, Alain, 1958- Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6129685
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Practical support for lean six sigma software process definition using IEEE software engineering standards için kapak resmi
Practical support for lean six sigma software process definition using IEEE software engineering standards
Yazar 
Land, Susan K. Smith, Douglas Burr, 1943- Walz, John W.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6129687
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Handbook of applied algorithms solving scientific, engineering and practical problems için kapak resmi
Handbook of applied algorithms solving scientific, engineering and practical problems
Yazar 
Nayak, Amiya. Stojmenović, Ivan.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201533
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Dependability benchmarking for computer systems için kapak resmi
Dependability benchmarking for computer systems
Yazar 
Kanoun, Karama. Spainhower, Lisa.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6129686
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
The cognitive dynamics of computer science cost-effective large scale software development için kapak resmi
The cognitive dynamics of computer science cost-effective large scale software development
Yazar 
De Gyurky, Szabolcs Michael. Tarbell, Mark A. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5201429
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: