Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Optical bit error rate an estimation methodology için kapak resmi
Optical bit error rate an estimation methodology
Yazar 
Kartalopoulos, Stamatios V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263060
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Measurement errors in surveys için kapak resmi
Measurement errors in surveys
Yazar 
Biemer, Paul P. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0626/2005270829-b.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10509849
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10509849
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Spatial error analysis a unified, application-oriented treatment için kapak resmi
Spatial error analysis a unified, application-oriented treatment
Yazar 
Hsu, David Y., 1945- IEEE Aerospace and Electronic Systems Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5273252
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
A unified approach to the finite element method and error analysis procedures için kapak resmi
A unified approach to the finite element method and error analysis procedures
Yazar 
Dow, John O., 1941-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780122214400
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: