Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Statistical analysis of profile monitoring için kapak resmi
Statistical analysis of profile monitoring
Yazar 
Noorossana, Rassoul, 1959- Saghaei, Abbas, 1972- Amiri, Amirhossein, 1979- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=45132
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10534036
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=693512
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Basic statistical tools for improving quality için kapak resmi
Basic statistical tools for improving quality
Yazar 
Kang, Chang W. (Chang Wok), 1957- author. Kvam, Paul H., 1962- author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118491751
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118491751
ebrary http://site.ebrary.com/id/10593130
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=1010501
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Statistical methods for quality improvement için kapak resmi
Statistical methods for quality improvement
Yazar 
Ryan, Thomas P., 1945-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118058114
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=43294
http://resolver.library.cornell.edu/cgi-bin/EBookresolver?set=Books24x7&id=43294
Cover image http://catalogimages.wiley.com/images/db/jimages/9780470590744.jpg
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10560653
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Statistical control by monitoring and adjustment için kapak resmi
Statistical control by monitoring and adjustment
Yazar 
Box, George E. P. Luceño, Alberto. Paniagua-Quiñones, María del Carmen.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Click here to view book
ebrary http://site.ebrary.com/id/10501391
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=848509
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control için kapak resmi
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control
Yazar 
May, Gary S. Spanos, Costas J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201952
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: