Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling için kapak resmi
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling
Yazar 
McPherson, J. W. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-93683-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications için kapak resmi
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Yazar 
Franco, Jacopo. author. Kaczer, Ben. author. Groeseneken, Guido. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization için kapak resmi
Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization
Yazar 
Richter, Detlev. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-6082-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
The Electrical Contact of the Pantograph-Catenary System Theory and Application için kapak resmi
The Electrical Contact of the Pantograph-Catenary System Theory and Application
Yazar 
Wu, Guangning. author. Gao, Guoqiang. author. Wei, Wenfu. author. Yang, Zefeng. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-6589-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
VLSI Design and Test for Systems Dependability için kapak resmi
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Yazar 
Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Design for Manufacturability From 1D to 4D for 90–22 nm Technology Nodes için kapak resmi
Design for Manufacturability From 1D to 4D for 90–22 nm Technology Nodes
Yazar 
Balasinski, Artur. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-1761-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: