Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
10 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Analog and VLSI circuits için kapak resmi
Analog and VLSI circuits
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Learning from VLSI Design Experience için kapak resmi
Learning from VLSI Design Experience
Yazar 
Lee, Weng Fook. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-03238-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
VLSI Design and Test for Systems Dependability için kapak resmi
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Yazar 
Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design için kapak resmi
Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design
Yazar 
Elfadel, Ibrahim (Abe) M. editor. Boning, Duane S. editor. Li, Xin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-04666-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Massive MIMO Detection Algorithm and VLSI Architecture için kapak resmi
Massive MIMO Detection Algorithm and VLSI Architecture
Yazar 
Liu, Leibo. author. Peng, Guiqiang. author. Wei, Shaojun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-6362-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits için kapak resmi
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Yazar 
Jayanthy, S. author. Bhuvaneswari, M.C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems Methods and Applications için kapak resmi
Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems Methods and Applications
Yazar 
Shi, Guoyong. author. Tan, Sheldon X.-D. author. Tlelo Cuautle, Esteban. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1103-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Digital VLSI Design with Verilog A Textbook from Silicon Valley Polytechnic Institute için kapak resmi
Digital VLSI Design with Verilog A Textbook from Silicon Valley Polytechnic Institute
Yazar 
Williams, John Michael. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-04789-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Non-Linear Feedback Neural Networks VLSI Implementations and Applications için kapak resmi
Non-Linear Feedback Neural Networks VLSI Implementations and Applications
Yazar 
Ansari, Mohd. Samar. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-81-322-1563-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits için kapak resmi
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Yazar 
Liu, Xiao. author. Xu, Qiang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-00533-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: