Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Eylem Seç

Başlık:

Yazar:

Liu, Xiao. author.

ISBN:

9783319005331

Basım Bilgisi:

1st ed. 2014.

Fiziksel Tanımlama:

XV, 108 p. 59 illus., 38 illus. in color. online resource.

Seri:

Lecture Notes in Electrical Engineering, 252

Konu Terimleri:

Yazar Ek Girişi:

Tüzel Kişi Ek Girişi:

Elektronik Erişim:

Ayırtma:
Kopya:

Kütüphane	Materyal Türü	Demirbaş Numarası	Yer Numarası	Durumu/İade Tarihi	Materyal Ayırtma
Arıyor... Çevrimiçi Kütüphane	E-Kitap	488098-1001	ONLINE	Arıyor... Unknown	Arıyor... Rafta