Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits için kapak resmi
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Yazar 
Jayanthy, S. author. Bhuvaneswari, M.C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults için kapak resmi
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Yazar 
Mrozek, Ireneusz. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Hybrid Fault Tolerance Techniques to Detect Transient Faults in Embedded Processors için kapak resmi
Hybrid Fault Tolerance Techniques to Detect Transient Faults in Embedded Processors
Yazar 
Azambuja, José Rodrigo. author. Kastensmidt, Fernanda. author. Becker, Jürgen. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-06340-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon için kapak resmi
Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Yazar 
Dehbashi, Mehdi. author. Fey, Görschwin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09309-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: