Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Microscopy of Semiconducting Materials 2007 için kapak resmi
Microscopy of Semiconducting Materials 2007
Yazar 
Cullis, A. G. editor. Midgley, P. A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8615-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK için kapak resmi
Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK
Yazar 
Cullis, A. G. editor. Hutchison, J. L. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-31915-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Fundamentals of Solid State Engineering için kapak resmi
Fundamentals of Solid State Engineering
Yazar 
Razeghi, Manijeh. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-75708-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
High Permittivity Gate Dielectric Materials için kapak resmi
High Permittivity Gate Dielectric Materials
Yazar 
Kar, Samares. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(334228.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-36535-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: