Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment Kiev, Ukraine 26–30 April 2004 için kapak resmi
Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment Kiev, Ukraine 26–30 April 2004
Yazar 
Flandre, Denis. editor. Nazarov, Alexei N. editor. Hemment, Peter L.F. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3013-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Sensors for Environment, Health and Security Advanced Materials and Technologies için kapak resmi
Sensors for Environment, Health and Security Advanced Materials and Technologies
Yazar 
Baraton, Marie-Isabelle. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-9009-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Nanoscaled Semiconductor-on-Insulator Structures and Devices için kapak resmi
Nanoscaled Semiconductor-on-Insulator Structures and Devices
Yazar 
Hall, Steve. editor. Nazarov, Alexei N. editor. Lysenko, Vladimir S. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6380-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Geomagnetics for Aeronautical Safety A Case Study in and around the Balkans için kapak resmi
Geomagnetics for Aeronautical Safety A Case Study in and around the Balkans
Yazar 
Rasson, Jean L. editor. Delipetrov, Todor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5025-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Defects in High-k Gate Dielectric Stacks Nano-Electronic Semiconductor Devices için kapak resmi
Defects in High-k Gate Dielectric Stacks Nano-Electronic Semiconductor Devices
Yazar 
Gusev, Evgeni. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4367-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: