Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advanced techniques for maintenance modeling and reliability analysis of repairable systems için kapak resmi
Advanced techniques for maintenance modeling and reliability analysis of repairable systems
Yazar 
Sharma, Garima, author. Rai, Rajiv Nandan, author.
Yer Numarası 
TA169 .S53 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394174836
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: