Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(8)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(8)
Electronic books.
(7)
System safety.
(6)
Microelectronics.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
18 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-39535-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-14952-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-49390-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling için kapak resmi
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling
Yazar 
McPherson, J. W. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332682.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00122-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling için kapak resmi
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling
Yazar 
McPherson, J.W. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6348-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections için kapak resmi
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Yazar 
Tan, Cher Ming. author. Li, Wei. author. Gan, Zhenghao. author. Hou, Yuejin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-310-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Measurement Uncertainty An Approach via the Mathematical Theory of Evidence için kapak resmi
Measurement Uncertainty An Approach via the Mathematical Theory of Evidence
Yazar 
Salicone, Simona. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-46328-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Advanced techniques for maintenance modeling and reliability analysis of repairable systems için kapak resmi
Advanced techniques for maintenance modeling and reliability analysis of repairable systems
Yazar 
Sharma, Garima, author. Rai, Rajiv Nandan, author.
Yer Numarası 
TA169 .S53 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394174836
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Electromechanical coupling theory, methodology and applications for high-performance microwave equipment için kapak resmi
Electromechanical coupling theory, methodology and applications for high-performance microwave equipment
Yazar 
Duan, Baoyan, author. Zhang, Shuxin (Professor of electromechanical engineering), author.
Yer Numarası 
TK7876 .D83 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119904427
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Electrical connectors : design, manufacture, test, and selection için kapak resmi
Electrical connectors : design, manufacture, test, and selection
Yazar 
Pecht, Michael, editor. Kyeong, San, editor.
Yer Numarası 
TK3521
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119679837
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Repairable systems reliability analysis : a comprehensive framework için kapak resmi
Repairable systems reliability analysis : a comprehensive framework
Yazar 
Rai, Rajiv Nandan, author. Chaturvedi, Sanjay K., author. Bolia, Nomesh, author.
Yer Numarası 
QA402 .R35 2020
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119526582
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: