Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
2024
(2)
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Electrospinning : fundamentals, methods, and applications için kapak resmi
Electrospinning : fundamentals, methods, and applications
Yazar 
Wang, Liming, editor. Qin, Xiaohong, editor.
Yer Numarası 
TA418.9 .F5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527841479
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: