Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Charged Semiconductor Defects Structure, Thermodynamics and Diffusion için kapak resmi
Charged Semiconductor Defects Structure, Thermodynamics and Diffusion
Yazar 
Seebauer, Edmund G. author. Kratzer, Meredith C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-059-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advanced Thermal Management Materials için kapak resmi
Advanced Thermal Management Materials
Yazar 
Jiang, Guosheng. author. Diao, Liyong. author. Kuang, Ken. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331292.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1963-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Thermal Transport for Applications in Micro/Nanomachining için kapak resmi
Thermal Transport for Applications in Micro/Nanomachining
Yazar 
Wong, Basil T. author. Mengüç, M. Pinar. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73607-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: