Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
10 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition için kapak resmi
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition
Yazar 
Sachdev, Manoj. editor. Gyvez, José Pineda de. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Proceedings of the FISITA 2012 World Automotive Congress Volume 8: Vehicle Design and Testing (II). için kapak resmi
Proceedings of the FISITA 2012 World Automotive Congress Volume 8: Vehicle Design and Testing (II).
Yazar 
SAE-China. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333744.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33738-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Proceedings of the FISITA 2012 World Automotive Congress Volume 7: Vehicle Design and Testing (I). için kapak resmi
Proceedings of the FISITA 2012 World Automotive Congress Volume 7: Vehicle Design and Testing (I).
Yazar 
SAE-China. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333763.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33835-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Reliability verification, testing and analysis in engineering design için kapak resmi
Reliability verification, testing and analysis in engineering design
Yazar 
Wasserman, Gary S., 1951-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter için kapak resmi
Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter
Yazar 
Maichen, Wolfgang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-31419-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits için kapak resmi
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Yazar 
Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting için kapak resmi
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
Yazar 
Gizopoulos, Dimitris. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization için kapak resmi
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Yazar 
Larsson, Erik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135763
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits için kapak resmi
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Yazar 
Kabisatpathy, Prithviraj. author. Barua, Alok. author. Sinha, Satyabroto. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135977
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Make and test projects in engineering design : creativity, engagement and learning için kapak resmi
Make and test projects in engineering design : creativity, engagement and learning
Yazar 
Samuel, A. E. (Andrew E.), 1931-
Yer Numarası 
TA174 .S268 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: